cadence画反相器版图
软件: cadence
Cadence绘制CMOS反相器版图步骤
1. 前期准备:建立设计环境
- 创建库文件:打开Cadence CIW(Command Interpreter Window),点击File→New→Library,输入库名(如`my_inverter_lib`);在“Technology File”中选择“Attach to an existing techfile”(如TSMC 0.25μm或SMIC相应工艺文件),完成库创建。
- 创建单元:在库中点击File→New→Cell View,输入单元名(如`inv`),选择“View Name”为“Layout”,点击“OK”进入版图编辑界面。
2. 版图绘制:晶体管与互连
(1) 绘制PMOS晶体管
- 有源区(pactive):在LSW(Layer Selection Window)中选择`pactive`层(后缀为`drw`),使用矩形工具(快捷键`R`)在版图中心绘制有源区,设置宽度(W)为4.5μm、长度(L)为1.8μm(对应PMOS尺寸,可根据电路设计调整)。

- 多晶硅栅极(poly):选择`poly`层,绘制与有源区中部重叠的矩形,栅长(L)设为0.3μm(多晶伸出有源区≥0.3μm,满足设计规则)。
- 源/漏接触孔(ca):选择`ca`层(接触孔),绘制0.3μm×0.3μm的矩形,放置在有源区两侧(与多晶硅间距≥0.3μm);使用复制命令(`C`)添加多个接触孔,间距≥0.45μm。
- P+注入区(pselect):选择`pselect`层,在接触孔外侧绘制矩形,包围源/漏区(与接触孔间距≥0.3μm)。
(2) 绘制NMOS晶体管
- 复制与修改:将PMOS层(`pactive`、`poly`、`ca`、`pselect`)复制到NMOS区域,修改层名为对应NMOS层(`nactive`、`poly`、`ca`、`nselect`);调整有源区宽度(如W=2.7μm),将`pselect`移至`nselect`上方,`pactive`换为`nactive`。
- N阱(nwell):选择`nwell`层,绘制矩形包围NMOS晶体管(与`nselect`间距≥0.9μm,满足阱隔离要求)。
(3) 连线与金属层
- 金属1(metal1):选择`metal1`层,连接PMOS与NMOS的漏极(通过`ca`层),作为反相器输出;用`metal1`连接PMOS源极至电源(VDD)、NMOS源极至地(GND)。
- 输入/输出引脚:使用`Pin`工具(快捷键`P`)添加输入引脚(`in`,连接至PMOS与NMOS栅极)和输出引脚(`out`,连接至`metal1`输出线),设置引脚方向(如输入引脚为“Input”,输出引脚为“Output”)。
3. 验证与优化
- 设计规则检查(DRC):点击版图编辑界面的Tools→DRC,运行DRC验证;若存在错误(如间距不足、层未闭合),根据提示修改版图(如调整接触孔位置、增大层间距)。
- 版图对称性优化:调整PMOS与NMOS的位置(如左右对称),减少寄生参数差异,提升电路性能(如降低延迟、提高驱动能力)。
注意事项
- 工艺规则遵循:所有层尺寸(如最小线宽、间距)需符合所选工艺库的设计规则(如TSMC 0.25μm工艺的最小线宽为0.25μm)。
- 寄生参数控制:尽量缩短金属连线长度,减少寄生电阻与电容(如输入/输出线采用`metal1`而非`metal2`,降低负载)。
- 备份与版本管理:定期保存版图文件(快捷键`Ctrl+S`),避免数据丢失;可使用版本控制工具(如Git)管理设计迭代。
1. 前期准备:建立设计环境
- 创建库文件:打开Cadence CIW(Command Interpreter Window),点击File→New→Library,输入库名(如`my_inverter_lib`);在“Technology File”中选择“Attach to an existing techfile”(如TSMC 0.25μm或SMIC相应工艺文件),完成库创建。
- 创建单元:在库中点击File→New→Cell View,输入单元名(如`inv`),选择“View Name”为“Layout”,点击“OK”进入版图编辑界面。
2. 版图绘制:晶体管与互连
(1) 绘制PMOS晶体管
- 有源区(pactive):在LSW(Layer Selection Window)中选择`pactive`层(后缀为`drw`),使用矩形工具(快捷键`R`)在版图中心绘制有源区,设置宽度(W)为4.5μm、长度(L)为1.8μm(对应PMOS尺寸,可根据电路设计调整)。

- 多晶硅栅极(poly):选择`poly`层,绘制与有源区中部重叠的矩形,栅长(L)设为0.3μm(多晶伸出有源区≥0.3μm,满足设计规则)。
- 源/漏接触孔(ca):选择`ca`层(接触孔),绘制0.3μm×0.3μm的矩形,放置在有源区两侧(与多晶硅间距≥0.3μm);使用复制命令(`C`)添加多个接触孔,间距≥0.45μm。
- P+注入区(pselect):选择`pselect`层,在接触孔外侧绘制矩形,包围源/漏区(与接触孔间距≥0.3μm)。
(2) 绘制NMOS晶体管
- 复制与修改:将PMOS层(`pactive`、`poly`、`ca`、`pselect`)复制到NMOS区域,修改层名为对应NMOS层(`nactive`、`poly`、`ca`、`nselect`);调整有源区宽度(如W=2.7μm),将`pselect`移至`nselect`上方,`pactive`换为`nactive`。
- N阱(nwell):选择`nwell`层,绘制矩形包围NMOS晶体管(与`nselect`间距≥0.9μm,满足阱隔离要求)。
(3) 连线与金属层
- 金属1(metal1):选择`metal1`层,连接PMOS与NMOS的漏极(通过`ca`层),作为反相器输出;用`metal1`连接PMOS源极至电源(VDD)、NMOS源极至地(GND)。
- 输入/输出引脚:使用`Pin`工具(快捷键`P`)添加输入引脚(`in`,连接至PMOS与NMOS栅极)和输出引脚(`out`,连接至`metal1`输出线),设置引脚方向(如输入引脚为“Input”,输出引脚为“Output”)。
3. 验证与优化
- 设计规则检查(DRC):点击版图编辑界面的Tools→DRC,运行DRC验证;若存在错误(如间距不足、层未闭合),根据提示修改版图(如调整接触孔位置、增大层间距)。
- 版图对称性优化:调整PMOS与NMOS的位置(如左右对称),减少寄生参数差异,提升电路性能(如降低延迟、提高驱动能力)。
注意事项
- 工艺规则遵循:所有层尺寸(如最小线宽、间距)需符合所选工艺库的设计规则(如TSMC 0.25μm工艺的最小线宽为0.25μm)。
- 寄生参数控制:尽量缩短金属连线长度,减少寄生电阻与电容(如输入/输出线采用`metal1`而非`metal2`,降低负载)。
- 备份与版本管理:定期保存版图文件(快捷键`Ctrl+S`),避免数据丢失;可使用版本控制工具(如Git)管理设计迭代。